更新時(shí)間:2025-11-18
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在微電子制造、光刻技術(shù)、航空航天等工業(yè)領(lǐng)域,精度是決定產(chǎn)品成敗的核心關(guān)鍵。毫米以下的精度偏差往往意味著整批產(chǎn)品的報(bào)廢、設(shè)備停機(jī)甚至項(xiàng)目延期。
傳統(tǒng)位置反饋設(shè)備如鋼帶尺或玻璃光柵,受限于材料熱膨脹、安裝誤差和環(huán)境干擾,已難以滿足當(dāng)前超精密加工對(duì)穩(wěn)定性、分辨率與抗干擾能力的高要求:
一是測(cè)量精度無(wú)法滿足納米級(jí)加工需求,導(dǎo)致產(chǎn)品良率驟降;
二是測(cè)量設(shè)備與生產(chǎn)環(huán)境適配性差,主機(jī)散熱、安裝空間限制影響測(cè)量穩(wěn)定性;
三是多自由度測(cè)量場(chǎng)景下,傳統(tǒng)設(shè)備難以兼顧效率與精度,拖慢生產(chǎn)節(jié)奏。
這些不僅是技術(shù)問(wèn)題,更是影響良品率、生產(chǎn)效率和設(shè)備可靠性的系統(tǒng)性挑戰(zhàn),而光纖激光尺,正是為解決這些行業(yè)痛點(diǎn)而生的高精度測(cè)量解決方案。
PLR3000光纖激光尺基于激光干涉原理,將氦氖激光通過(guò)保偏光纖傳輸至干涉探頭,穩(wěn)頻精度最高可達(dá)0.02ppm——這意味著在1米的測(cè)量距離中,頻率波動(dòng)誤差僅0.02微米,遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng)測(cè)量工具。實(shí)現(xiàn)了非接觸、高分辨率、多通道的位置反饋。同時(shí),其線性測(cè)量精度達(dá)0.2~0.5ppm,以0.2ppm的PLR3200 PRO型號(hào)為例,測(cè)量4米量程時(shí)最大誤差僅0.8微米,滿足芯片光刻中對(duì)晶圓定位的納米級(jí)精度要求。
更關(guān)鍵的是,設(shè)備采用激光發(fā)射裝置與干涉探頭分離設(shè)計(jì),通過(guò)3米鎧裝光纖連接,既能將主機(jī)遠(yuǎn)離產(chǎn)線熱源,避免溫度變化對(duì)測(cè)量通路的干擾,又能靈活適配狹小安裝空間,降低阿貝誤差,解決了“精度與環(huán)境適配"的兩難問(wèn)題。





但其核心價(jià)值不在于測(cè)量,而在于構(gòu)建穩(wěn)定可靠的位置基準(zhǔn)系統(tǒng)。
從源頭上杜絕頻率漂移,確保長(zhǎng)期穩(wěn)定性;
支持微米級(jí)甚至亞微米級(jí)運(yùn)動(dòng)控制;
支持角錐棱鏡、平面鏡、差分干涉等多種光學(xué)結(jié)構(gòu),適應(yīng)反射鏡、線性軸、旋轉(zhuǎn)臺(tái)等不同場(chǎng)景;
實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)溫濕度、氣壓,自動(dòng)修正空氣折射率影響,保證測(cè)量數(shù)據(jù)真實(shí)可靠;
通過(guò)鎧裝光纖連接,可將激光器遠(yuǎn)離熱源與振動(dòng)源,減少系統(tǒng)干擾。
三軸同步輸出,配合差分干涉儀,可實(shí)現(xiàn)工作臺(tái)的納米級(jí)閉環(huán)控制,提升套刻精度與設(shè)備吞吐量。
通過(guò)安裝平面鏡干涉儀,實(shí)時(shí)反饋刀頭位置,結(jié)合環(huán)境補(bǔ)償功能,即使在車(chē)間溫波動(dòng)大的環(huán)境下也能保持±0.5ppm的線性精度。
大型構(gòu)件加工時(shí)需兼顧長(zhǎng)距離與多自由度測(cè)量,選擇角錐棱鏡干涉探頭(最大量程4m,最大速度2m/s),配合一體化環(huán)境補(bǔ)償單元,可自動(dòng)監(jiān)測(cè)溫度、氣壓、濕度并實(shí)時(shí)修正激光折射率,即使在車(chē)間環(huán)境波動(dòng)下,也能保證測(cè)量準(zhǔn)確性。
隨著工業(yè)4.0與智能制造的深入推進(jìn),測(cè)量技術(shù)也需同步升級(jí)。光纖激光尺不僅能滿足當(dāng)前納米級(jí)測(cè)量需求,還具備可拓展性——PLR3000量程可突破4m,分辨率可通過(guò)外部拓展進(jìn)一步提升,為未來(lái)更高精度的制造場(chǎng)景預(yù)留空間。同時(shí),其多通道輸出與定制化探頭設(shè)計(jì),能與自動(dòng)化產(chǎn)線深度融合,助力企業(yè)實(shí)現(xiàn)“測(cè)量-反饋-調(diào)整"的閉環(huán)控制,推動(dòng)制造過(guò)程向智能化轉(zhuǎn)型。對(duì)于正面臨精度瓶頸的制造企業(yè)而言,選擇合適的測(cè)量工具是突破發(fā)展的關(guān)鍵一步。
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